數字式四探針電阻率測試儀型號：SX1944

產品說明   
 　　 四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。廣泛用于半導體 、太陽能行業，還能滿足科研單位的精密研究。　   
產品特點   
 　　四探針測試儀是根據單晶硅物理測試方法 標準并參考美國A.S.T.M 標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測試儀器。    
　　儀器以大規模集成電路為核心部件，采用旋扭式開關控制，及各種工作狀態LED指示。應用微計算機技術，使得測量讀數更加直觀、快速。整套儀器體積小、功耗低、測量精度高、測試速度快、穩定性好、易操作。   
　型號SX1944 
測量范圍電阻率：10-4～105Ω-cm 方塊電阻：10-3～106Ω/□ 電阻：10-4～105Ω 
可測半導體材料尺寸直徑：Φ15～100mm 
測量方位軸向、徑向均可 
數字電壓表⑴量程： 200mV 
⑵誤差：± 0.1% 讀數± 2 字 
⑶大分辨力：10μV 
顯示 : 4位半數字顯示。小數點自動顯示 

數控恒流源⑴電流輸出：直流電流 0 ～ 100mA 連續可調，由交流電源供電。 
⑵量程： 1 μ A ， 10 μ A ， 100μA ， 1mA ， 10mA ， 100mA 
⑶誤差：± 0.5% 讀數± 2 字 

四探針測試探頭⑴探 針 間 距： 1mm 
⑵探針機械游移率： ± 1.0% 
⑶探 針： 碳化鎢，Φ 0.5mm 
⑷壓 力： 0 ～ 2kg 可調 , 大壓力約 2kg 

電源輸入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗： <20W 
外形尺寸主機 260mm （長）× 210 mm （寬）× 125mm （高） 
備注USB 接口，配軟件